Условия максимума интерференции света в тонкой пленке в проходящем свете:
Толщина пленки должна быть целочисленным кратным половине длины волны используемого света, то есть t = mλ/2, где t - толщина пленки, m - целое число, λ - длина волны.
Интерференционные максимумы происходят при абсолютном сдвиге фаз между волнами, отраженными от верхней и нижней поверхностей пленки, равном кратным 2π.
Условия минимума интерференции света в тонкой пленке в проходящем свете:
Толщина пленки должна быть целочисленным кратным длине волны в используемом свете, то есть t = mλ, где t - толщина пленки, m - целое число, λ - длина волны.
Интерференционные минимумы происходят при относительном сдвиге фаз между волнами, отраженными от верхней и нижней поверхностей пленки, равном кратным λ/2.
Таким образом, для получения ярких интерференционных максимумов или минимумов в тонкой пленке в проходящем свете необходимо учитывать соответствующие условия толщины пленки и разности фаз между отраженными волнами.
Условия максимума интерференции света в тонкой пленке в проходящем свете:
Толщина пленки должна быть целочисленным кратным половине длины волны используемого света, то есть t = mλ/2, где t - толщина пленки, m - целое число, λ - длина волны.
Интерференционные максимумы происходят при абсолютном сдвиге фаз между волнами, отраженными от верхней и нижней поверхностей пленки, равном кратным 2π.
Условия минимума интерференции света в тонкой пленке в проходящем свете:
Толщина пленки должна быть целочисленным кратным длине волны в используемом свете, то есть t = mλ, где t - толщина пленки, m - целое число, λ - длина волны.
Интерференционные минимумы происходят при относительном сдвиге фаз между волнами, отраженными от верхней и нижней поверхностей пленки, равном кратным λ/2.
Таким образом, для получения ярких интерференционных максимумов или минимумов в тонкой пленке в проходящем свете необходимо учитывать соответствующие условия толщины пленки и разности фаз между отраженными волнами.